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写真素材: semiconductor silicon wafer under probe testing

素材番号 : 36397948 全て表示

semiconductor silicon wafer under probe testing[36397948]の写真素材は、テスト、試験、マシンのタグが含まれています。この素材はgenkurさん(No.662247)の作品です。SサイズからLサイズまで、¥550からご購入いただけます。無料の会員登録で、カンプ画像のダウンロードや画質の確認、検討中リストをご利用いただけます。全て表示

semiconductor silicon wafer under probe testing 36397948

semiconductor silicon wafer under probe testing

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	S	640 x 426px 22.6 x 15.0cm (72dpi)	JPG	¥550	5プリペイド
	M	2000 x 1333px 16.9 x 11.3cm (300dpi)	JPG	¥1,980	18プリペイド
	L	4320 x 2880px 36.6 x 24.4cm (300dpi)	JPG	¥3,630	33プリペイド
	Ex	エクストラライセンスを追加		+¥3,300	+30プリペイド
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クレジット(作者名表記) : genkur / PIXTA(ピクスタ)

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作品コメント: Semiconductor silicon wafer undergoing probe testing. Selective focus.

樹氷に囲まれたねぐらから飛び立つタンチョウ（北海道・鶴居） [36397947] smart home automation system [36397949]